Optical inspection (AOI)

 

 

Koh Young esittelee uuden ulottuvuuden AOI:ssa. Sen patentoitu 3D tarkistus teknologia havaitsee laajemman skaalan vikoja, esim: kiertyneet tai "tombstoned" komponentit.

Koh Youngin Zenith AOI tarjoaa:

                           - 3D optinen pinnanmittaus koko piirilevylle. 

                           - Tarkka mittaus data 

                           - Vertailu IPC A-610 vaatimuksiin 

                           - Ei "Golden Board" tarvetta

                             
                                         PDF esite